通过微探针连接到芯片并引出所需信号,用于电学特性测试
u
性能参数
放大倍数50X,100X,200X,500X
8个探针座
带屏蔽箱
u
应用范围
微小连接点信号引出,用于失效分析失效确认,FIB电路修改后电学特性确认等。
特别推荐 站内搜索 店铺手机网站二维码地址 随时随地,手机展示给客户
|
手动测试探针台12寸探针台4寸探针台probe
详细信息 主要用途
通过微探针连接到芯片并引出所需信号,用于电学特性测试
u
性能参数
放大倍数50X,100X,200X,500X
8个探针座
带屏蔽箱
u
应用范围
微小连接点信号引出,用于失效分析失效确认,FIB电路修改后电学特性确认等。
|